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3D先进封装TSV CMP CU Slurry 铜化学机械抛光液

产品分类: 抛光液
    产品名称:3D先进封装TSV CMP CU Slurry 铜化学机械抛光液
    磨料类型:半导体cmp抛光液slurry
    磨料粒径:专利化学配方/可定制
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      TSV(硅通孔)Cu铜CMP抛光液·参数吉致电子,TSV CU Slurry 可定制·速率高·效果好·专利配方CUSTOMIZABLE, HIGH SPEED, GOOD EFFECT AND PATENTED FORMULA

      产品名称:3D先进封装TSV CMP CU Slurry/TSV铜化学机械抛光液/半导体cmp抛光液slurry

      TSV硅通孔的作用: 提高集成度、降低功耗系统地集成数字电路、模拟电路。通过铜、钨、多晶硅等导电物质的填充实现硅通孔的垂直电气互连,用于3D封装TSV阻挡层化学机械抛光液

      Front-side TSV Cu slurry----核心任务:快速去除Cu  RRCu超快!

      Removal Rate:

      吉致电子JZ-1238与竞品AXXX 相当,2.2psi时为竞品的 99.2%;加入 H2O24hRR 仍很稳定,为原来的 96%。

      吉致电子JZ-1238 的表面粗度 Ra 与竞品相当,批次测试结果的稳定性也较好!

      吉致电子TSV Cu Slurry RR选择比:

      JZ-1238在1.0和.5psi时对于Cu和Tin,Ti,TEOS的RR与AXXX均相当,速率选择比比AXXX稍高;对TaRR为

      1.0psi时AXXX的速率选择比: Cu:TiN=7.83:1,Cu:Ti=85.13:1, Cu:TEOS=119.03:1

               JZ-1238的速率选择比: Cu:TiN=8.22:1, Cu:Ti=140.90:1,Cu:TEOS=133.39:1

      0.5psi时AXXX的速率选择比: Cu:TiN=5.54:1,Cu:Ti=68.51:1,Cu:TEOS=48.21:1

               JZ-1238的速率选择比: Cu:TiN=6.01:1, Cu:Ti=98.81:1,Cu:TEOS=111.56:1


      吉致电子JEEZ用于3D封装TSV化学机械抛光液

      可定制选择稳定的选择比,去除速率,对氧化物/氮化物的选择比。硅精抛液系列具有低缺陷的优点。Cu抛光液系列具有理想的硅和二氧化硅去除速率和选择比。涵盖TSV铜/阻挡层Slurry,TSV晶背铜/介质层抛Slurry、TSV晶背硅Slurry、TSV晶背硅/铜Slurry等。具有高去除速率、选择比可调等优点。以及集成电路制造工艺中浅槽隔离的抛光等等。

      吉致电子研发团队--15年经验CMP抛光液配方工程师,为您攻克抛光难题!

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