SIC碳化硅的化学机械抛光工艺
碳化硅Sic单晶生长之后是晶碇,而且具有表面缺陷,是没法直接用于外延的,这就需要加工。其中,滚圆把晶碇做成标准的圆柱体,线切割会把晶碇切割成晶片,各种表征保证加工的方向,而抛光则是提高晶片的质量。
SiC表面的损伤层可以通过四种方法去除:
机械抛光:简单但会残留划痕,适用于初抛;
化学机械抛光:(Chemical Mechanical Polishing,CMP),引入化学腐蚀去除划痕,适用于精抛;
氢气刻蚀:设备复杂,常用于HTCVD过程;
等离子辅助抛光:设备复杂,不常用。
抛光机:AP-810型单面抛光机; 抛光压力200g/c㎡; 大盘转速50r/min; 陶瓷盘转速38r/min; 抛光液组成:以SiO2(30wt%、pH=10.15)为基础,加入0-70wt%的双氧水(30wt%、纯优级),最后用KOH(5wt%)、HNO3(1wt%)调节pH=8.5; 抛光液流量3L/min,循环使用。
抛光垫是表面带有特殊沟槽的多孔材料,主要作用是存储和传输CMP抛光液、对晶片提供一定的压力并对其表面进行机械摩擦。
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