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半导体CMP工艺核心:金属互联层与介质层Slurry抛光液的类型划分

文章出处:责任编辑:人气:-发表时间:2025-08-28 16:59【

在半导体芯片制造中,化学机械抛光CMP是关键工艺,其中CMP Slurry抛光液就是核心“耗材,直接决定芯片平整度、电路可靠性与性能。无论是 “导线”(互连层)还是 “绝缘骨架”(介质层),都需靠它实现精准平整。下面吉致电子小编就来拆解下半导体CMP抛光液的中金属互联层及介质层CMP抛光液的类型和应用场景。

一、金属互连层CMP抛光液(后端 BEOL 核心)

核心需求是选择性除金属、护绝缘/阻挡层,主流类型有:

铜(Cu)CMP抛光液

14nm及以下先进制程核心,因铜电阻率低成主流,分两步抛光:

①粗抛:靠氧化剂(如H2O2)、铜离子络合剂(如有机酸)+胶体二氧化硅颗粒,高速率去多余铜层;

②精抛:加铜腐蚀抑制剂(如BTA),只除残留铜,不损伤钽/钽氮阻挡层,避免凹陷、腐蚀。

CMP化学机械平面抛光液.jpg

钨(W)CMP抛光液

用于“钨栓塞”(层间导电柱)抛光,应对钨高硬度、高惰性:

化学端:强氧化剂(如 Fe (NO3)3、H2O2)活化钨,生成易除的WO3

机械端:用气相二氧化硅等高硬度颗粒,保证去除速率,且不损伤周围二氧化硅绝缘层。

钴(Co)CMP抛光液

3nm及以下制程下一代选择,钴电迁移抗性更强难点在:

控氧化剂浓度(如低浓度H2O2),防钴过度氧化;

适配钌Ru等新型阻挡层,实现“钴-钌-绝缘层”多层选择性抛光,是高端研发重点。

二、介质层CMP抛光液(前后端通用)

介质层(二氧化硅、氮化硅)是“绝缘骨架”,CMP要低粗糙度、无划伤:

二氧化硅(SiO2)CMP抛光液

应用最广,分场景适配:

前端(FEOL)胶体二氧化硅+弱碱(pH9-11),用于硅片初始平整、STI 抛光,防伤硅衬底;

后端(BEOL):用软质胶体二氧化硅,适配low-k材料(减信号延迟),防low-k开裂剥落。

吉致电子半导体抛光液.jpg

氮化硅(Si3N4)CMP抛光液

用于硬掩膜、隔离层抛光,应对其高稳定性:

化学端:酸性(如 H3PO4基)或碱性(如KOH基+氧化剂,提升氮化硅活性;

机械端:用氧化铝等高硬颗粒,保证去除速率,且Si3N4/SiO2去除速率比>10:1,防伤二氧化硅。

从14nm到3nm,CMP抛光液是芯片制造的关键拼图。而吉致电子深耕半导体材料领域并专注CMP抛光液及抛光耗材的研发,期望为全球客户定制贴合需求的解决方案,助力半导体产业突破技术难关,共促行业高质量发展。

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