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钽酸锂 铌酸锂(LT/LN)双组分抛光液|吉致电子CMP Slurry

文章出处:责任编辑:人气:-发表时间:2026-07-24 15:13【

在光通信、射频通讯、光电传感的高端制造赛道里,钽酸锂(LT)、铌酸锂(LN晶圆衬底绝对是核心刚需基材。凭借出色的压电、光电、声光性能,它被广泛用于光通信调制器、SAW滤波器、红外光学器件、高频通讯元件等核心产品中。

但做过LT/LN晶圆精密加工的同行都清楚,这类硬脆晶体的CMP抛光,一直是量产环节的痛点难点。

不同于普通硅片抛光,LTLN晶体硬度高、材质脆、晶格特殊,在产线高压、高转速的高效CMP工况下,很容易出现三大问题:研磨速率慢、基板平坦度差、抛光后表面颗粒残留多。

更头疼的是,颗粒残留超标就必须增加RCA清洗工序,不仅拖慢生产节奏、增加耗材成本,反复清洗还可能损伤基板表层,直接拉低产品良品率。

吉致电子铌酸锂钽酸锂抛光耗材(750).jpg


针对行业普遍存在的这些量产痛点,吉致电子研发并推出出了JZ-4904 LT/LN晶圆抛光专用双组分抛光液,专门适配高压高速的严苛CMP工况,兼顾加工效率、镜面精度与表面洁净度,适配铌酸锂/钽酸锂晶圆与复合衬底的规模化精密抛光。JZ-4904双组分抛光液的核心优势,就是适配量产级严苛工况,高速高压下依旧稳定输出高精度抛光效果

吉致电子CMP抛光液 JZ-4904四大性能优势,解决LT/LN抛光核心痛点

1.双组分定制配方,精准匹配LT/LN晶体特性

市面上通用抛光液大多采用单一配方,无法适配LTLN特殊的晶格结构和理化属性,容易出现研磨不均、亚表面损伤、微划痕等问题。

JZ-4904依托大量晶体抛光实验数据优化双组分复合体系,精准平衡化学腐蚀机械研磨的协同作用。既能快速去除基板表面的机械损伤层,又能有效抑制磨料团聚、表层划伤,最大程度保留晶体基板的完整性,批次稳定性远优于传统单组分产品,完全适配工业化连续量产。

JZ-4904实验数据(马赛克)水印.jpg

2.高压高速工况拉满,效率、平整度双提升

这是这款抛光液最核心的量产优势。针对产线主流高压、高转速CMP工艺,JZ-4904优化了纳米磨料粒径分布与表面活性体系,在高强度加工工况下,依旧能维持超高且稳定的材料去除速率。

简单来说:同样的工艺参数,抛光耗时更短;同样的加工时长,平整度精度更高

抛光后LT/LN基板面内一致性极佳,表面粗糙度达到纳米级,彻底解决高速抛光带来的塌边、凹凸不平、厚薄偏差等问题,完全满足高端光电器件、高频通讯元件的超高精度基材要求。

铌酸锂钽酸锂无蜡垫(750).jpg

3.全场景兼容,单晶、复合衬底通用

很多抛光液只能适配单一基板类型,企业需要储备多款耗材,不仅增加采购和管理成本,还会频繁调试工艺参数,影响生产稳定性。

JZ-4904打破场景局限,同时适配LT/LN单基板、LT/LN复合衬底的精密抛光。无论是基础的单晶镜面抛光,还是高难度的复合结构衬底平坦化加工,都能输出均匀、稳定的抛光效果,适配光电晶体芯片、压电晶片、光学窗口片等多品类产品生产,帮助企业简化耗材体系、优化生产流程、提升设备利用率。

4.超低颗粒残留,可省去后续RCA清洗工序

对于LT/LN基板而言,表面洁净度直接决定后续镀膜、光刻、键合工艺的成功率,是器件良品率的核心关键。

JZ-4904通过专属表面改性与防残留配方设计,从根源上减少磨料吸附和杂质残留,CMP抛光完成后,基板表面颗粒数量极低,洁净度远超行业通用标准。

基于这一特性,工件抛光后无需额外进行RCA清洗,在保障超高良品率的前提下,大幅精简生产工序、减少清洗耗材消耗、缩短生产周期,有效降低量产综合成本,是大规模批量生产的优质选择。

JZ-4904使用工序(1)水印.jpg

适用场景

目前JZ-4904已广泛应用于铌酸锂、钽酸锂晶体基板的精密CMP抛光,覆盖光通信调制器、射频滤波器、声表面波谐振器、航空航天光学器件、高频通讯元器件等高端制造领域,是解决LT/LN基板高效、高精度、高洁净度抛光难题的专用解决方案。

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